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熒光光譜儀是一種檢測物質(zhì)的定性、定量分析儀器。其原理是根據(jù)熒光效應(yīng)：激光照射原子，原子中電子吸收能量躍遷到第一激發(fā)單線態(tài)或第二激發(fā)單線態(tài)，但這些激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的，當(dāng)電子由第一激發(fā)單線態(tài)恢復(fù)到基態(tài)時(shí)，能量會(huì)以光的形式釋放，產(chǎn)生熒光，一般持續(xù)發(fā)光時(shí)間短于10^-8秒(同時(shí)產(chǎn)生的磷光持續(xù)時(shí)間大于10^-8秒)。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。熒光光譜儀(熒光分光光度計(jì)...

進(jìn)口XRD射線衍射儀將待測物質(zhì)粉末狀或薄膜狀涂在樣品支架上。然后，通過調(diào)節(jié)X射線源的位置和角度，使X射線光束射向樣品。衍射點(diǎn)會(huì)散射到不同角度的位置，檢測器會(huì)記錄下這些衍射點(diǎn)的位置和強(qiáng)度，并傳輸給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)會(huì)利用衍射點(diǎn)的位置和強(qiáng)度數(shù)據(jù)，根據(jù)熵法、峰形分析等算法來求解樣品的晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)，如晶胞參數(shù)、原子坐標(biāo)等。通過它，可以確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，并進(jìn)一步研究物質(zhì)的性質(zhì)和行為。由于其高分辨率和準(zhǔn)確性，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、固體物理、化學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，為科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)提供...

進(jìn)口XRD射線衍射儀是用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的先進(jìn)儀器。該儀器利用X射線與物質(zhì)相互作用的原理，通過測量物質(zhì)對(duì)X射線的衍射模式來確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線是一種電磁波，具有很短的波長和很高的能量。當(dāng)X射線穿過物質(zhì)時(shí)，會(huì)與物質(zhì)內(nèi)部的原子、離子或分子相互作用。其中一種相互作用是散射，當(dāng)X射線遇到物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)時(shí)會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射是X射線經(jīng)過晶體后，被晶體內(nèi)的平面結(jié)構(gòu)重新散射出來，形成一系列不同的衍射點(diǎn)。每個(gè)衍射點(diǎn)對(duì)應(yīng)于晶體內(nèi)部的一些平面，這些平面的間距和相對(duì)位置決定了物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)...

單頻激光器，即單縱模激光器，它的特點(diǎn)是輸出的激光模式既滿足單橫模又滿足單縱模，其諧振腔內(nèi)部只有單一縱模進(jìn)行震蕩，并且輸出光強(qiáng)呈現(xiàn)高斯分布。除了激光本身良好的單色性和方向性外，單頻激光器擁有普通激光器難以達(dá)到的相干長度長、譜線寬度窄的特點(diǎn)。在激光雷達(dá)、激光測距、激光遙感、激光醫(yī)療、光譜學(xué)、光頻標(biāo)準(zhǔn)和非線性光學(xué)頻率變換等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。單頻激光器要求激光既是單縱模又是單橫模。由于單頻激光器具有光束質(zhì)量好、相干長度長、譜線寬度窄、單色性好等優(yōu)點(diǎn)，因此在激光雷達(dá)、激光測距、激光...

高溫環(huán)境XRD衍射儀是種常用的非破壞性分析技術(shù)，可以用來研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。然而，在高溫環(huán)境下進(jìn)行XRD研究卻是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。高溫環(huán)境下，樣品受到了高溫的熱膨脹和晶體結(jié)構(gòu)的改變等影響，研究人員需要克服這些困難，以獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。在進(jìn)行之前，需要準(zhǔn)備好高溫下穩(wěn)定的樣品。高溫樣品制備一般采用多種方法，如粉末冶金、電弧濺射、激光熔煉等。這些方法可以使樣品在高溫下保持結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性，從而得到可靠的XRD數(shù)據(jù)。高溫環(huán)境XRD衍射儀在多個(gè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如，在材料科學(xué)中，研究人員可以通...

SEM掃描電鏡的核心部件包括電子槍、聚焦系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)等。電子槍產(chǎn)生的高能電子束經(jīng)過聚焦系統(tǒng)聚焦后，由于電子與樣品的相互作用，會(huì)發(fā)生各種信號(hào)的反射和散射。掃描系統(tǒng)通過控制電子束的掃描位置，將收集到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束掃描像素點(diǎn)的亮度值。檢測系統(tǒng)則將這些信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束的亮度，形成圖像。分辨率高，可以觀察到更細(xì)微的細(xì)節(jié)和表面形貌。其次，具有更廣泛的觀察范圍，可以用于不同尺寸和形狀的樣品。再次，具有非常強(qiáng)的深度成像能力，可以觀察到樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組織。此外，還可以應(yīng)用于非...

X射線粉末衍射儀XRD，通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。適用領(lǐng)域：1.材料晶體大小的測定期模擬計(jì)算。2.半導(dǎo)體基底上薄膜生長的納米材料分析。3.納米材料中的物相定性分析。4.納...