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日本電子電鏡是一種用途廣泛的多功能儀器，具有很多*的性能，重要特點(diǎn)是景深大，圖像富立體感，具有三維形態(tài)。它可以進(jìn)行三維形貌的觀察和分析，當(dāng)然，還可以進(jìn)行微區(qū)的成分分析等其他方面的應(yīng)用。表面分析是指對(duì)材料的表面特性和表面現(xiàn)象進(jìn)行觀察分析、測(cè)量的方法和技術(shù)，是掃描電鏡基本、普遍的用途。通常用二次電子成像，來(lái)觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成等情況。原子序數(shù)襯度是利用對(duì)樣品表層微區(qū)原子序數(shù)或化學(xué)成分變化敏感的物理信號(hào)，如背散射電子、吸收電子等作為調(diào)制信號(hào)而形成的一種能反映微區(qū)化學(xué)成分...

臺(tái)式電鏡SEM是一個(gè)相對(duì)年輕且發(fā)展迅速的產(chǎn)品。其實(shí)許多應(yīng)用領(lǐng)域并不需要使用低于1nm的高分辨率掃描電鏡（SEM），10nm的分辨率是綽綽有余的。然而，由于材料特征點(diǎn)尺寸越來(lái)越小和觀測(cè)需求的增加，而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類(lèi)新型儀器的出現(xiàn)*光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式電鏡SEM的樣品制備方法：1.佩戴無(wú)粉手套，使用鑷子把丁型樣品臺(tái)放置在制樣臺(tái)上（嚴(yán)禁在樣品...

在材料領(lǐng)域中，普通掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其生產(chǎn)過(guò)程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。普通掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope），簡(jiǎn)寫(xiě)為SEM，是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技...

電子源發(fā)射的電子束經(jīng)過(guò)電磁透鏡的電子光學(xué)通路聚焦，電子源的直徑被縮小到納米尺度的電子束斑，與顯示器掃描同步的電子光學(xué)鏡筒中的掃描線圈控制電子束，在樣品表面一定微小區(qū)域內(nèi)，逐點(diǎn)逐行掃描。電子束與樣品相互作用，從樣品中發(fā)射的具有成像反差的信號(hào)，臺(tái)式掃描電子顯微鏡由一個(gè)適當(dāng)?shù)膱D像探測(cè)器逐點(diǎn)收集，并將信號(hào)經(jīng)過(guò)前置放大器和視頻放大器，用調(diào)制解調(diào)電路調(diào)制顯示器上相對(duì)應(yīng)顯示像素的亮度，形成我們?nèi)祟?lèi)觀察習(xí)慣的，反映樣品二維形貌的圖像或者其他可以理解的反差機(jī)制圖像。由于圖像顯示器的像素尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)...

高溫環(huán)境XRD即X-raydiffraction，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長(zhǎng)很短(約為20～0.06nm)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中，包含與靶中各種元素對(duì)應(yīng)的具有特定波長(zhǎng)的X射線，稱(chēng)為特征（或標(biāo)識(shí)）X射線。x射線是一種具有較短波長(zhǎng)的高能電磁波，由原子內(nèi)層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產(chǎn)生。X射線...

巖礦分析，顧名思義，就是應(yīng)用各種礦物學(xué)原理與方法，通過(guò)礦物的光、電、聲、熱、磁、重、硬度、氣味等以及其主要的化學(xué)成分特征，對(duì)巖石、礦物樣品、包括光（薄）片、砂片、碎屑、粉未進(jìn)行觀察、鑒定以區(qū)別其他礦物類(lèi)別，以及研究巖石、礦石的主要礦物組成、礦物成生序列，結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、巖（礦）石類(lèi)型的技術(shù)方法?，F(xiàn)代地球物理學(xué)是將數(shù)學(xué)、物理、計(jì)算機(jī)與傳統(tǒng)地學(xué)緊密結(jié)合的學(xué)科；是利用高精度測(cè)量?jī)x器探測(cè)地球內(nèi)部結(jié)構(gòu)、動(dòng)力和演化，進(jìn)行資源勘查與開(kāi)發(fā)利用、地質(zhì)災(zāi)害預(yù)測(cè)和防治、工程勘測(cè)、生態(tài)環(huán)境保護(hù)以及污染監(jiān)...

普通掃描電鏡是一種利用電子進(jìn)行成像的顯微鏡，由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名，簡(jiǎn)稱(chēng)為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長(zhǎng)遠(yuǎn)小于可見(jiàn)光的波長(zhǎng)，掃描電鏡具有比光學(xué)顯微鏡高得多圖像分辨率，使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對(duì)所有類(lèi)型的樣本進(jìn)行圖像處理，陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而，某些特定類(lèi)型的樣品更具有挑戰(zhàn)性，并且需要操作者進(jìn)行額外的樣品制備，以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在...