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超高壓XRD是基于多晶樣品對(duì)X射線的衍射效應(yīng)，對(duì)樣品中各組份的存在形態(tài)進(jìn)行分析測定的方法.測定的內(nèi)容包括：各組份的結(jié)晶情況，所屬的晶相，晶體的結(jié)構(gòu)，各種元素在晶體中的價(jià)態(tài)、成鍵狀態(tài)等。即在測定各種元素在樣品中含量的基礎(chǔ)上，還要進(jìn)一步確定各種晶態(tài)組分的結(jié)構(gòu)和含量。衍射的概念：波的重要特性：波的疊加性，干涉現(xiàn)象，衍射現(xiàn)象。波的疊加性：當(dāng)多于一列的同類波在空間相遇并共存時(shí)，總的波是各個(gè)分波的矢量和，而各個(gè)分波相互并不影響，分開后仍然保持各自的性質(zhì)不變。干涉：由于波的疊加作用，當(dāng)兩列...

鎢燈絲電鏡是一種重要的測量分析儀器，在很多的實(shí)驗(yàn)室中都離不開鎢燈絲掃描電鏡，出于到位的原理以及性能，鎢燈絲掃描電鏡的使用顯得更加的出色。對(duì)于使用者而言選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡廠家顯得很重要。它性能是很多人關(guān)心的因素，所謂的性能包括兩個(gè)因素，包括鎢燈絲掃描電鏡的操作性能以及技術(shù)參數(shù)。先是操作性能，在設(shè)計(jì)機(jī)器的過程中操作性能是重點(diǎn)考察的因素，考驗(yàn)是設(shè)備部件之間的相互銜接，能否在測量的過程中更加的操作鎢燈絲掃描電鏡是影響設(shè)備性能的關(guān)鍵因素。不僅是鎢燈絲掃描電鏡操作性能，鎢燈絲掃描電...

掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。SEM在高分子中的常見應(yīng)用：（1）觀察高聚物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)；（2）觀察結(jié)晶高聚物的晶態(tài)結(jié)構(gòu)；（3）研究材料共混相容性；（4）觀察高分子納米材料結(jié)構(gòu)；（5）表征高分子材料的降解性；（6）研究高分子材料的生物相容性；（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：(1)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80...

巖礦的成分測定與分析是地質(zhì)工作的一個(gè)重要組成部分，它的研究對(duì)象主要是天然礦產(chǎn)，如巖石、礦物等；主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等)，對(duì)礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評(píng)價(jià)，是廣大地質(zhì)工作者的重要任務(wù)?？梢哉f，巖礦成分的測定與分析工作與我國的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)是一類能使物體離子化，并通過適當(dāng)?shù)碾妶?、磁場將它們按質(zhì)荷比分離、檢測分...

煤巖分析系統(tǒng)是以應(yīng)用煤巖學(xué)理論為基礎(chǔ)，可測定多個(gè)應(yīng)用煤巖學(xué)指標(biāo)，為合理優(yōu)化配煤提供了有力的數(shù)據(jù)支撐，是入廠煤檢驗(yàn)和優(yōu)化煉焦配煤技術(shù)的有效手段！近年來，我國國民經(jīng)濟(jì)的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對(duì)鋼鐵的需求，同時(shí)也拉動(dòng)了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴(kuò)張導(dǎo)致煉焦煤供應(yīng)緊張，煉焦煤價(jià)格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用，對(duì)焦炭質(zhì)量提出了更高的要求，致使煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時(shí)，由于焦炭產(chǎn)能過剩，焦炭價(jià)格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟(jì)效益低下的雙重壓力，如何...

掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，由于它具有制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)，故被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。工作原理：掃描電鏡是對(duì)樣品表面形態(tài)進(jìn)行測試的一種大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時(shí)，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動(dòng)能，最后停止運(yùn)動(dòng)，并被樣品吸收。在此過程中有99%以上的入射電...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。掃描電鏡的主要結(jié)構(gòu)：電子光學(xué)系統(tǒng)：產(chǎn)生高...