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煤巖分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析模塊我們?cè)黾恿伺袛鄦畏N煤煤巖成分組成的方法，利用該判斷方法可以得到煤巖組成含量(鏡質(zhì)組、惰質(zhì)組、穩(wěn)定組)。單種煤的鏡質(zhì)組反射率表現(xiàn)為一個(gè)正態(tài)的分布，在全組分反射率累計(jì)直方圖一定區(qū)域內(nèi)它是一條直線，所以煤巖組分百分含量可以用在全組分反射率累計(jì)直方圖中鏡質(zhì)組反射率分布范圍內(nèi)的擬合直線與前后兩條斜率不同曲線的擬合直線的交點(diǎn)來(lái)確定。先根據(jù)鏡質(zhì)組反射率的方差進(jìn)行測(cè)定該煤樣是單種煤或者混合煤。當(dāng)方差小丁0.12時(shí)，煤樣被判別為單種煤，用上述方法判斷煤巖組分，反之，則...

X射線衍射儀是礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器,用于對(duì)結(jié)晶物質(zhì)的定性和定量分析，還可確定類(lèi)質(zhì)同象混晶（固溶體）的成分，有限固溶體的固溶極限，區(qū)分晶質(zhì)和非晶質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。測(cè)定晶體的有序－無(wú)序結(jié)構(gòu)及其有序度，以及粘土礦物的混層結(jié)構(gòu)等。工作原理：粉末樣品經(jīng)一束平行的單色X射線垂直照射后，產(chǎn)生一組以入射線為軸的同軸反射圓錐面族，計(jì)數(shù)管繞樣品旋轉(zhuǎn),依次測(cè)量各反射圓錐面2θ角（即衍射角，又稱(chēng)布喇格角）位置的衍射線強(qiáng)度，即可獲得表征物相的各種衍射數(shù)據(jù)，從而進(jìn)行物相鑒定和晶體結(jié)構(gòu)的研究。注意事項(xiàng)：...

超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵...

巖礦的成分測(cè)定與分析是地質(zhì)工作的一個(gè)重要組成部分，它的研究對(duì)象主要是天然礦產(chǎn)，如巖石、礦物等；主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等)，對(duì)礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測(cè)定與分析。巖礦成分的測(cè)定與分析工作具有重要的意義，如何快速準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評(píng)價(jià)，是廣大地質(zhì)工作者的首要任務(wù)。可以說(shuō)，巖礦分析系統(tǒng)與分析工作與我國(guó)的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)的基本流程：1.1試樣的加工制作實(shí)際用于測(cè)定分析的試樣一般只需要幾克，因...

普通掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束，電子在電場(chǎng)的作用下加速，經(jīng)過(guò)兩三個(gè)電磁聚光鏡后在樣品表面聚焦成極細(xì)的電子束。該細(xì)小的電子束在末透鏡的上方的雙偏轉(zhuǎn)線圈作用下在樣品表面進(jìn)行掃描，被加速的電子到達(dá)樣品的表面，樣品原子的外層電子受激發(fā)離開(kāi)樣品形成二次電子被探測(cè)器俘獲后轉(zhuǎn)化成的信號(hào)，在顯像管熒光屏上形成的圖像亮點(diǎn)即掃描電鏡圖像，圖像與樣品表面形態(tài)有密切的關(guān)系。如二次電子，背散射電子，吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光等。這些信號(hào)被按順序、成比例的交換成視頻信號(hào)、檢測(cè)放大處理成像，從...

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)宏觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等。使用的注意事項(xiàng)有哪些？1.不要像普通垃圾一樣丟棄X射線管和探測(cè)器。2.請(qǐng)?jiān)陉P(guān)門(mén)時(shí)，盡量避免過(guò)度用力，以免影響安全系統(tǒng)。3.定期清潔儀器內(nèi)部，以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。4.光管水路需要定期檢查和清潔。5.人員長(zhǎng)時(shí)間離開(kāi)后必須關(guān)機(jī)，20分鐘后關(guān)循...

臺(tái)式電鏡SEM在行業(yè)當(dāng)中有著非常重要的作用，它可以放大并觀察物體表面結(jié)構(gòu)，現(xiàn)如今被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲(chóng)害的防治、災(zāi)害鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。同時(shí)臺(tái)式掃描電鏡SEM它在特點(diǎn)方面也非常突出，比如擁有非常小的體積和操作簡(jiǎn)單易用等。臺(tái)式電鏡SEM使用的注意事項(xiàng)：使用的過(guò)程中，體積小，使用方便，減少占用空間的同時(shí)，讓大家在使用儀器的時(shí)候變的更方便；在操作和維護(hù)的時(shí)候也非常簡(jiǎn)單，能夠?yàn)槭褂谜邷p少很多不必...